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LABTT iSPSS-1000 lanza ICEFA XI, llevando el análisis de fallas a una nueva era de “inteligencia integrada” ¡.
2026-07-16
Recientemente, la 11.ª Conferencia Internacional sobre el Análisis de Fallas en Ingeniería (ICEFA XI) se celebró con gran solemnidad en Shanghái. Como un evento académico de gran influencia a nivel mundial en el ámbito del análisis de fallas, esta conferencia reúne a cientos de expertos y líderes industriales procedentes de cerca de 50 países para debatir sobre la integración bidireccional entre la investigación teórica en análisis de fallas y la práctica ingenieril.
En esta reunión de élite, un auténtico festín académico internacional, Lab Testing Technology (Shanghai) Co., Ltd., como importante entidad colaboradora y expositora del congreso, presentó el 14 de julio durante el evento un hito innovador: el sistema integrado de detección inteligente iSPSS‑1000, capaz de analizar tamaño, rendimiento y microestructura. El estreno de este nuevo producto, con su concepto disruptivo de “una sola máquina con múltiples capacidades, análisis in situ y impulsado por IA”, se convirtió en el centro de atención del público asistente.
Lanzamiento de nuevo producto: Integración de capacidades de detección multidimensional para mejorar la eficiencia del análisis de fallas
En la práctica del análisis de fallas, han persistido durante mucho tiempo problemas como la funcionalidad limitada del equipo de detección, la dispersión de los datos y la complejidad de los procesos. El LABTT iSPSS-1000 integra tres funciones principales: medición dimensional, ensayo de dureza y observación de la microestructura, y permite realizar un análisis integral de múltiples parámetros in situ sobre las piezas de trabajo.
Este sistema es adecuado para piezas sometidas a tratamiento térmico, piezas soldadas, componentes complejos fabricados por impresión 3D y piezas con roscas sometidas a tensiones; además, está especialmente diseñado para la detección sincrónica de múltiples parámetros de las fuentes de fisuras que originan fallas en los componentes. Al mismo tiempo, permite realizar inspecciones que abarcan desde contornos geométricos macroscópicos hasta estructuras metalográficas microscópicas, y la fuerza de medición de la dureza puede ajustarse con precisión entre 5 gramos y 200 kilogramos, ofreciendo un acceso integral a los datos completos sobre el comportamiento del material.
Cultivo académico: retroalimentar las fronteras teóricas con logros prácticos
Durante la reunión, el señor Zhang Liqiu, director general de LABTT, presentó un informe especial sobre el análisis de fallas e introdujo las características técnicas del sistema iSPSS-1000 y su aplicación práctica en el análisis de fallas ante los expertos asistentes.
El informe presenta los resultados del análisis del sistema en casos de falla, incluyendo la localización de la fuente de las grietas, el análisis de correlación entre el gradiente de dureza y los cambios microestructurales, entre otros, lo que confirma la utilidad del sistema para mejorar la eficiencia del diagnóstico de fallas.
Al mismo tiempo, ello confirma aún más el enorme potencial del sistema inteligente para mejorar la eficiencia y la precisión del diagnóstico de fallas, tanto a nivel teórico como práctico.
Cultivar de manera continua: acumular tecnología para impulsar el desarrollo del sector.
El área de exposición de LABTT, ubicada en el stand n.º 8 del recinto principal, atrajo a numerosos expertos nacionales e internacionales que acudieron para visitarla y intercambiar ideas. Algunos representantes asistentes presenciaron la demostración del funcionamiento del sistema in situ y expresaron una valoración positiva respecto a su practicidad e integración.
El análisis de fallas es la piedra angular para garantizar la seguridad y la fiabilidad industriales. LABTT espera ofrecer una herramienta de ensayo práctica para el ámbito del análisis de fallas mediante el iSPSS-1000, ayudando a los técnicos a obtener datos sobre el desempeño de los materiales de manera más eficiente y proporcionando una base confiable para determinar la causa de la falla.
LABTT seguirá invirtiendo en el ámbito del análisis de fallas y de las tecnologías de detección, impulsando la iteración de productos y la ampliación de sus aplicaciones, y colaborará con los colegas del sector para promover el avance y el desarrollo de la tecnología de análisis de fallas.
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